デバイス古今東西(23) ―― 放射線によるソフト・エラー：組み合わせ回路の脆弱性問題

先般，外資系半導体メーカの米国人の知人からビジネス開発の依頼を受けて，ある日本の通信系大手のシステム・メーカとの商談に出席しました．ある程度の商談が進んだあと，半導体デバイスの信頼性問題の一つである，耐放射線に関する技術的な質問を受けました． その際，1980年代初頭に当時の東京大学宇宙科学研究所（宇宙研）に納品した米国RCA社製耐放射線用CMOSロジック，ならびにSRAMのビジネスにかかわったことを思い出しました．宇宙開発事業団（NASDA）と宇宙研が統合する前の話です．納品したSRAMは1Kビットほどの容量で，SOS（Silicon on Sapphire）というサファイア基板を使っていました．SOS基板は，1980年ごろのCMOSで特有のラッチアップ問題を低減させた，耐放射線に強いシリコン基板の一つです．当時の三大衛星メーカの一つであったRCA社製の人工衛星でも実証されていた製品です