世界で初めて半導体ソフトエラー発生率を「連続的」に実測、名古屋大学と北海道大学など

世界で初めて半導体ソフトエラー発生率を「連続的」に実測、名古屋大学と北海道大学など 大学ジャーナルオンライン編集部 日本電信電話株式会社（NTT）、名古屋大学、北海道大学は共同で、中性子の持つエネルギーごとの半導体ソフトエラー発生率を「連続的な」データとして実測することに、世界で初めて成功した。 多様な環境でのソフトエラーによる故障数の算出には、ソフトエラー発生率のエネルギー依存性（中性子が持つエネルギーごとのソフトエラー発生率）の詳細なデータが不可欠。しかし、従来は飛び飛びのエネルギーに対応したデータしか得られず、ソフトエラーによる故障数を正確に算出できなかった。 研究では、光速に近い中性子のエネルギーを「飛行時間法」で特定するため、数ナノ秒（10億分の数秒）でソフトエラーを検出できる高速エラー検出回路を開発した。実験は米国ロスアラモス国立研究所の高出力800MeV陽子線形加速器施設で実