認証エラー率0.12％、NECの顔認証が世界一 ニュースイッチ by 日刊工業新聞社

ＮＥＣは８日、米国立標準技術研究所（ＮＩＳＴ）が実施した直近の顔認証技術のベンチマークテスト（性能評価試験）で世界１位を獲得したと発表した。１２００万人分の静止画を用いた「１：Ｎ認証」において、認証エラー率０・１２％という第１位の性能評価を獲得した。撮影後１０年以上経過した画像を用いて評価を行う経年変化のテストを含む三つのテストでも１位となるなど、ＮＩＳＴがウェブサイトに掲載した主要８項目の全てでトップ３に入る高い評価を獲得した。 ＮＥＣは２００９年の初参加以来、ＮＩＳＴが主催する顔認証技術のベンチマークテストの中でも高い精度が求められる１：Ｎ認証のテストで世界１位の評価を複数回獲得した実績を持つ。中核となるアルゴリズム（計算手順）の性能向上を図りながら、顔認証の社会実装を推進し、これまでに世界５０以上の国と地域で顔認証事業を展開してきた。 今後、多人数を同時かつ高精度に認証するゲートレス