USB 3.0規格のFAQ(3) ―― SuperSpeed USBのテストはどのように行うか？

USB 3.0規格のFAQ(3) ―― SuperSpeed USBのテストはどのように行うか？ 畑山 仁 SuperSpeed USB（USB 3.0）の物理層の規格について，FAQ（Frequently Asked Questions）形式で説明する技術解説の第3回である．本稿の読者対象は，パソコン周辺機器のエンド・ユーザではなく，組み込みシステムや半導体の開発エンジニアを想定している．今回は，認証テストに必要な基礎知識をまとめる．高速シリアル・インターフェースのテストでは，性質の異なるジッタ成分を分けて把握する必要がある．認証テストの測定では，USB 3.0特有の部分も存在するので注意が必要である．（編集部） ※ 本記事は2009年8月時点のUSB 3.0の仕様をもとに作成しています．改定などにより内容が変更される可能性があることをご了承ください．また，掲載された技術情報を利用して生