竹内健氏が語るエルピーダ倒産の原因略語・用語解説（私の独断と偏見で気になったものを順次に。DRAMとかは、別にいいよね） ADコンバータ:アナログ→デジタル変換器 CREST:Core Research for Evolutional Science and Technology 戦略的創造研究推進事業 ECC：Error Checking and Cirrection 誤り訂正符号 ISSCC：International Solid-State Circuits Conference 国際固体素子回路会議 続きを読む
グーグルの研究が示すメモリエラーの真実--明らかになった高い発生率
どうしてまたコンピュータがクラッシュしたのかと不思議に思ってはいないだろうか。Googleの実環境での研究によれば、それはメモリが原因かもしれないという。この研究では、メモリのエラー率が、これまでの研究で示されていたよりも高いことが分かった。 Googleは、同社のデータセンターにある膨大な数のコンピュータを使って、それらのマシンの実際の稼働状況についての実環境データを大量に収集することができる。それがまさに、エラー率が驚くほど高いことを明らかにした研究論文のために、同社が行ったことだ。 トロント大学教授Bianca Schroeder氏と、GoogleのEduardo Pinheiro氏ならびにWolf-Dietrich Weber氏の共著である同研究論文によれば、「メモリエラーの発生回数や、さまざまなDIMMにおけるエラー率の範囲が、以前報告されていたよりもずっと高いことが分かった。メ
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液体金属と水でできたゼリー状記憶装置、米大学の研究者が開発
