よくわかるバウンダリスキャン試験解説講座１．バウンダリスキャン概要 １．１ はじめに バウンダリスキャンテストは、１９８５年にヨーロッパのＪＥＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）によって最初に提案されました。さらに１９８６年に米国企業のメンバが加わり、１９９０年に規格化されたのがＩＥＥＥ ｓｔｄ １１４９．１－１９９０ Ｓｔａｎｄａｒｄ Ｔｅｓｔ Ａｃｃｅｓｓ Ｐｏｒｔ ａｎｄ Ｂｏｕｎｄａｒｙ－Ｓｃａｎ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅです。この規格は、正式名称よりも、その作業グループの名称であるＪＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）が、規格名称であるかのように使われていますが、ＪＴＡＧはあくまで作業グループの名称です。 バウンダリスキャンテストが制定された当初は、対応するデバイスが少なく、又ＰＣＢの製造性がよい日本国内ではあまり普及しませんでした。しかし、昨今ではデバイスパッ
JTAG（Joint Test Action Group）
