(前回から続く) 1995年末,JR東日本の会議室は重苦しい空気に包まれていた。 同社は1995年4月から10月まで,自動改札機の第二次フィールド試験を実施した。非接触ICカード導入の可否を決める重要なテストである。結果は芳しくなかった。ゲートが誤って閉じる「通過阻害率」は数%。磁気カード式改札機の4倍と高い。試験の責任者であるJR東日本の椎橋章夫と三木彬生にとって,この値は「失敗」を意味した。首都圏では, 1分当たり60人以上もの乗客が改札機を通る。この値では大渋滞が起きかねない。 椎橋は,乗客の動きをビデオで分析した結果を示した。 「カードをかざす時間が0.2秒を切る乗客がかなりいる。カードの処理時間を何とか0.1秒に縮めたいが…」 ソニーの日下部進が口を挟む。 「開発中のチップは処理性能を4倍に高めていますが,通信速度は変わりません。正直,0.1秒は至難です」 三木はため息をついて天