KDE│事例案内│液晶ガラス・PDPガラス検査システム・各種光学系に対応 モアレ縞方式による光学歪みによる欠陥検出（最小20μm幅のアワまで検出） 特殊な透過光によるキズ欠陥検出（最小50nm幅のキズまで検出） 透過光と反射光の組み合わせによる表裏識別 ・20μm分解能で、第8世代素板ガラスまで対応可能 ・MAX：64台のラインセンサーカメラまで対応可能 ・最新鋭のCPU採用と独自開発のソフトにより、高速画像処理を実現 ・MAX：1GB/Sの画像処理能力により、ガラス1枚に35GBの画像処理を実現 ・カメラの視野通過後5秒以内に判定処理を終了（欠陥数10個以内の場合） ・検査対象物ごとのカスタマイズ対応可能 ・オンライン時に上位PLCからデータをロードし、製品別に判定基準を設定可能 ・検査範囲マスク機能により対象検査範囲を設定し、検査ログファイル作成が可能 ・オフライン取り込み機能にて、取り込んだ元画像より欠点部分の拡大、解析が可能 ・レビュ
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株式会社メガトレード | 製品案内 | 外観検査ＬＥＤ照明（ラインセンサカメラ専用）
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http://homepage1.nifty.com/aimec/semilab/semilab.htm
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