会期:10月6日~10月9日(現地時間) 会場:米国コロラド州デンバー市 Marriott Tech Center PHM技術が目指すのは、システムやデバイスなどの故障予測と故障診断である。システムとデバイスでは、より複雑な要素が絡みあう、システム・レベルのPHM技術が圧倒的に難しい。「PHM 2008」では残念ながら、エレクトロニクス・システムの故障時期を予測した研究発表は登場しなかった。まだ時期尚早ということなのだろう。 これに対して、デバイス・レベルの故障予測はいくつかの研究発表があった。デバイス・レベルでの予測が簡単という訳ではないものの、故障メカニズムがかなり明らかになっているため、システム・レベルに比べると研究が進んでいる。本レポートでは、デバイス・レベルで寿命を予測した発表事例をいくつか紹介しよう。 ●鉛フリーはんだ付けの不良 最初に報告するのは、鉛フリーはんだを使ったはんた