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1)ドレイン電流やリング発信器などの特性。2)電源ピンの電流試験、入出力ピンの電流リーク試験と電圧試験。3)高電圧ストレステストの前後でドレイン電流が変化した値。
vcc のブックマーク 2015/04/28 13:27
【イベントレポート】 「再現しない不良」をあらかじめ取り除く[半導体][CPU][信頼性][回路]1)ドレイン電流やリング発信器などの特性。2)電源ピンの電流試験、入出力ピンの電流リーク試験と電圧試験。3)高電圧ストレステストの前後でドレイン電流が変化した値。2015/04/28 13:27
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pc.watch.impress.co.jp2015/04/28
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