リーク電流によるフラッシュメモリのエラー確率を、高い精度で予測。データをメモリに書き込む時点で寿命に応じた所定の数のエラーを意図的に注入することでデータを破壊し、誤り訂正できないようにする。

vcc のブックマーク 2015/06/19 13:00

<blockquote class="hatena-bookmark-comment"><a class="comment-info" href="https://b.hatena.ne.jp/entry/256652505/comment/vcc" data-user-id="vcc" data-entry-url="https://b.hatena.ne.jp/entry/s/internet.watch.impress.co.jp/docs/news/707613.html" data-original-href="https://internet.watch.impress.co.jp/docs/news/707613.html" data-entry-favicon="https://cdn-ak2.favicon.st-hatena.com/64?url=https%3A%2F%2Finternet.watch.impress.co.jp%2Fdocs%2Fnews%2F707613.html" data-user-icon="/users/vcc/profile.png">フラッシュメモリを物理的に破壊せずに“忘れられる権利”を実現するメモリシステム、中央大・竹内健教授のグループが開発　</a><ul class="comment-tag" style="list-style: none; margin: 0px;"><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/%E5%8D%8A%E5%B0%8E%E4%BD%93">半導体</a>]</li><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/Flash">Flash</a>]</li><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/%E3%83%A1%E3%83%A2%E3%83%AA">メモリ</a>]</li><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/%E3%81%93%E3%82%8C%E3%81%AF%E3%81%99%E3%81%94%E3%81%84">これはすごい</a>]</li><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/%E3%82%A8%E3%83%A9%E3%83%BC%E5%87%A6%E7%90%86">エラー処理</a>]</li><li style="float: left">[<a href="https://b.hatena.ne.jp/q/%E3%82%A2%E3%83%AB%E3%82%B4%E3%83%AA%E3%82%BA%E3%83%A0">アルゴリズム</a>]</li></ul><br><p style="clear: left">リーク電流によるフラッシュメモリのエラー確率を、高い精度で予測。データをメモリに書き込む時点で寿命に応じた所定の数のエラーを意図的に注入することでデータを破壊し、誤り訂正できないようにする。</p><a class="datetime" href="https://b.hatena.ne.jp/vcc/20150619#bookmark-256652505"><span class="datetime-body">2015/06/19 13:00</span></a></blockquote><script src="https://b.st-hatena.com/js/comment-widget.js" charset="utf-8" async></script>

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