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プロセス微細化で中性子線ソフトエラーの発生確率が下がるはずが40nm世代では逆に増加
mikage014 のブックマーク 2012/04/29 10:17
【イベントレポート】 【IRPS 2012レポート】 複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー[PC][Technology]プロセス微細化で中性子線ソフトエラーの発生確率が下がるはずが40nm世代では逆に増加2012/04/29 10:17
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pc.watch.impress.co.jp2012/04/27
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