製造分野向けの背景パターン画像は良品の検査画像でOK cIDFDの効果を確認するために、半導体製造プロセスを模したベンチマーク画像による評価を行った。半導体の回路パターンをイメージした縞模様を持つ背景パターン画像と、不具合の基になる微粒子や異物をイメージした手書き数字が縞模様の背景画像の上に重なる画像を使用して分類精度の検証を行ったころ、分類精度を従来の27.6%から83.0%に向上させることができた。
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