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2013年8月9日のブックマーク (1件)

  • テスト分析・テスト設計入門

    © 2013 Fuji Xerox Co., Ltd. All rights reserved. ■JaSST 2013 四国 テスト分析・テスト設計入門 富士ゼロックス株式会社 ソリューション・サービス開発部 秋山 浩一 2 自己紹介  1985年4月 富士ゼロックス入社  現在はHAYST法のコンサルティング業務に従事  NPO ソフトウェアテスト技術振興協会(ASTER) 理事  JaSST東京実行委員(2003年~) 日最大のテストシンポジウム1600名の動員  JSTQBステアリング委員(2006~) テスト技術者資格認定を行う国際組織日支部  日科技連 SQiP研究会 委員長(2011年~)  Wモデル研究会 主査(2011年7月~)  電通大 西康晴先生、NEC 吉澤智美氏、MRT 鈴木三紀夫氏  ISO/IEC JTC 1/SC7 WG26委員(20