Test-Driven Development for Embedded C 読書会に参加しました。 - きゃりんぐ びーくる ver 0.1
今年2月より始まった、Test-Driven Development for Embedded C（以下TDD for EC）の読書会が、今月始めに、めでたく最終回を迎えました。 全8回（うち1回は体調不良のため欠席）、10人前後のメンバーで、1年弱ほど続けてきました。 きっかけとモチベーション 読書会を知ったのは、Twitter上でした。フォローしていた方が呟かれていたのですが、TDD関連でその方を知り、フォローしたので、TDDについて追いかけていたことがきっかけでしょう。 TDDについて興味を持った理由はいくつかあります。 1. テスト自体への興味 私は、昨年2011年度卒として組み込み系プログラマになりました。プログラムの柔軟性や堅牢性については学生時代比較的意識していたのですが、テスト手法については、殆ど知識が なく、体系的な知識が欲しかったのです（これは現在進行形） 2. 開発ス
リリース、障害情報などのサービスのお知らせ
最新の人気エントリーの配信
j次のブックマーク
k前のブックマーク
lあとで読む
eコメント一覧を開く
oページを開く
Artikel-Serie: Scrum im Projektmanagement (MAN.3) der Automotive SPICE® | Sebastian Schneider: Automotive Agile, Funktionale Sicherheit und Automotive SPICE
Software Quality Objectives for Source Code
Automotive Spin Italia
ボルボ、車載コンピュータのアップデートを無償化