NEC、米JFK空港で顔認証 160万人の画像を0.3秒で審査 - 日本経済新聞【ニューヨーク=稲井創一】NECは米ニューヨークの玄関口であるジョン・エフ・ケネディ（JFK）空港に入国審査用の顔認証システムを本格稼働させた。160万人のデータベース画像を0.3秒でスピード審査できる能力があり、画質の悪い画像も正確に照合できるのが特長だ。国際線利用者の入国審査時間短縮は米主要空港で課題で、NECは他の空港での採用も目指す。主要な旅客ターミナルが6つあるJFK空港で、NECの
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