1兆回繰り返し使える強誘電体メモリー材料のしくみを解明 - "魔法の置換" 有害な鉛を使わない新材料開発へ新しい展望 - BL02B2(粉末結晶構造解析) 国立大学法人広島大学と国立大学法人東京大学は、独立行政法人理化学研究所、独立行政法人科学技術振興機構、財団法人高輝度光科学研究センターと共同で、次世代のメモリー材料として期待されている有害な鉛を含まない特殊なセラミックスが情報の書き込み・読み出しに対して高い耐久性を示すしくみをはじめて明らかにしました。 平成19年10月1日 国立大学法人広島大学 国立大学法人東京大学 独立行政法人理化学研究所 独立行政法人科学技術振興機構 財団法人高輝度光科学研究センター 国立大学法人広島大学(浅原利正学長)と国立大学法人東京大学(小宮山宏総長)は、独立行政法人理化学研究所(野依良治理事長)、独立行政法人科学技術振興機構(以下JST、北澤宏一理事長)、