SD耐久テスト 結果まとめ注意事項 1.想定寿命は、カード構造・素材の劣化を全く考慮していません 数百年という結果は、あくまで加速実験から算出された想定寿命です 2.半導体製品は個体差が有る程度有り、且つ素人がブラックボックス化されている コントローラの特性を理解しないで行っているテストです、結果を保証するものでは有りません 劣化したNANDは極端に電荷保持力が弱い為、使い込んだSDカードはデータの信頼性が劣ります テスト結果について 現在までに7種類のカードのテストを行った結果をグラフ化を行った(一部製品はテスト継続中) 耐久テスト結果より算出した年数をプロット、指標は3種類、下記が大まかな説明となる 【CardFill/Day】 ： 1日1回、カード容量までデータを書き込む状態、カード自体の耐久性を考慮した算出方法、極めてヘビーな利用方法 【8GB/Day】 ： 1日に8GBのデータをカードに書き込む状態、ドラ
