“NIMSの研究グループは、電子顕微鏡などの電子源として期待されているランタンホウ化物（LaB6）単結晶ナノワイヤの表面を原子レベルでクリーニングする技術を開発し、電子源の高性能化と安定性の向上に成功しました。

frothmouth のブックマーク 2015/12/02 16:58

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計測・分析装置の性能を飛躍的に高める高輝度・細束な電子源を開発 | NIMS

www.nims.go.jp2015/12/02

計測・分析装置の性能を飛躍的に高める高輝度・細束な電子源を開発 ~現行の電子源に比べ輝度が100倍に ! 　次世代電子顕微鏡開発に道~ 国立研究開発法人　物質・材料研究機構 (NIMS) NIMSの研究グループは、電子...

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