"中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー(※1)発生率(※2)を“連続的な”データとして実測することに成功し、その全貌を世界で初めて明らかにしました"

medihenmedihen のブックマーク 2020/11/27 11:34

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世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定:NTT持株会社ニュースリリース:NTT HOME

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