圧縮センシングは、最小限の情報損失で走査透過電子顕微鏡の電子線量とスキャン時間を減らすことができます。従来、圧縮センシングで使用されるスパーススキャンは、静的なプロービング位置のセットをサンプリングし

arxiv_readerarxiv_reader のブックマーク 2021/03/04 11:00

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強化学習を用いた適応型部分走査透過電子顕微鏡法

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