「日本IBMでは，システム・テストで（1）「新機能」，（2）「回帰」，（3）「負荷」，（4）「環境変化」，そして（5）「パフォーマンス測定」という5つのカテゴリについて検証する。」

Murakami のブックマーク 2008/06/27 06:52

<blockquote class="hatena-bookmark-comment"><a class="comment-info" href="https://b.hatena.ne.jp/entry/6677839/comment/Murakami" data-user-id="Murakami" data-entry-url="https://b.hatena.ne.jp/entry/s/xtech.nikkei.com/it/article/COLUMN/20071026/285596/" data-original-href="https://xtech.nikkei.com/it/article/COLUMN/20071026/285596/" data-entry-favicon="https://cdn-ak2.favicon.st-hatena.com/64?url=https%3A%2F%2Fxtech.nikkei.com%2Fit%2Farticle%2FCOLUMN%2F20071026%2F285596%2F" data-user-icon="/users/Murakami/profile.png">第10回　テスト方法－－品質とコストに大きく影響するテスト方法を決める</a><br><p style="clear: left">「日本IBMでは，システム・テストで（1）「新機能」，（2）「回帰」，（3）「負荷」，（4）「環境変化」，そして（5）「パフォーマンス測定」という5つのカテゴリについて検証する。」</p><a class="datetime" href="https://b.hatena.ne.jp/Murakami/20080627#bookmark-6677839"><span class="datetime-body">2008/06/27 06:52</span></a></blockquote><script src="https://b.st-hatena.com/js/comment-widget.js" charset="utf-8" async></script>

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