受験問題の難問・出題ミスなどを集めた「絶対に解けない受験世界史」
大学入試の問題の中には「これ、どうやっても正解が絞り込めないぞ？」「教科書も用語集も隅々まで読んだけれど、その答えはなかった……」というようなものが出てきたりします。そんな難問・悪問・奇問・出題ミスっぽいものを集めた本が「絶対に解けない受験世界史」です。 絶対に解けない受験世界史 | 総合書籍出版 社会評論社 http://www.shahyo.com/mokuroku/culture/sub_culture/ISBN978-4-7845-1101-3.php なぜこの本が作られたのかについて、裏表紙に「問題を解くことに膨大な勉強時間を費やしてきたからこそ、どうがんばっても解けない問題を出すのは出題側の不始末だ」とゲーテ(2009～2014)の言葉が引用されています。 本の装丁は赤本風なのですが、よく見ると「大学入試問題問題シリーズ」。「大学入試問題」の「問題」を集めています。 帯を取ると
書籍『Test Driven Development for Embedded C』: 柴田 芳樹 (Yoshiki Shibata)
Test Driven Development for Embedded C 作者: James W. Grenning出版社/メーカー: Pragmatic Bookshelf発売日: 2011/05/02メディア: ペーパーバック Beta版の時は、あまり内容を読んでいなかったのですが、最終版の1st printingを通勤電車の中で読んでいます。第1部である「Getting Started」である第6章「Yeah, but ...」までしかまだ読んでいませんが、組み込み向けテスト駆動開発本としてはお勧めです。 第5章「Embedded TDD Strategy」では、組み込みシステムでTDDを採用した利点が説明されています。特に、ハードウェアに依存する組み込みシステムでは、どうしても、（不安定な）ハードウェアが提供されてからデバッグに入ることに対して、TDDによりその問題をどのように
1
リリース、障害情報などのサービスのお知らせ
最新の人気エントリーの配信
処理を実行中です
j次のブックマーク
k前のブックマーク
lあとで読む
eコメント一覧を開く
oページを開く
Amazon.co.jp: 進撃の巨人(28) (講談社コミックス): 諫山創: 本
Amazon.co.jp: ダンジョン飯 7巻 (ハルタコミックス): 九井諒子: 本
Amazon.co.jp: きのう何食べた?(15) (モーニングKC): よしながふみ: 本
Amazon.co.jp: ジョジョリオン 20 (ジャンプコミックス): 荒木飛呂彦: 本
Amazon.co.jp: ビューティフルテスティング ―ソフトウェアテストの美しい実践 (THEORY/IN/PRACTICE): Tim Riley (編集), Adam Goucher (編集), 大西建児（監訳） (翻訳), 児島修 (翻訳): 本
Test Driven Development for Embedded C を買った - Natural Software
レガシーコード改善ガイド (Object Oriented SELECTION) | マイケル・C・フェザーズ, ウルシステムズ株式会社, 平澤 章, 越智 典子, 稲葉 信之, 田村 友彦, 小堀 真義 |本 | 通販 | Amazon
