書籍『Test Driven Development for Embedded C』: 柴田 芳樹 (Yoshiki Shibata)Test Driven Development for Embedded C 作者: James W. Grenning出版社/メーカー: Pragmatic Bookshelf発売日: 2011/05/02メディア: ペーパーバック Beta版の時は、あまり内容を読んでいなかったのですが、最終版の1st printingを通勤電車の中で読んでいます。第1部である「Getting Started」である第6章「Yeah, but ...」までしかまだ読んでいませんが、組み込み向けテスト駆動開発本としてはお勧めです。 第5章「Embedded TDD Strategy」では、組み込みシステムでTDDを採用した利点が説明されています。特に、ハードウェアに依存する組み込みシステムでは、どうしても、（不安定な）ハードウェアが提供されてからデバッグに入ることに対して、TDDによりその問題をどのように
