受験問題の難問・出題ミスなどを集めた「絶対に解けない受験世界史」
大学入試の問題の中には「これ、どうやっても正解が絞り込めないぞ？」「教科書も用語集も隅々まで読んだけれど、その答えはなかった……」というようなものが出てきたりします。そんな難問・悪問・奇問・出題ミスっぽいものを集めた本が「絶対に解けない受験世界史」です。 絶対に解けない受験世界史 | 総合書籍出版 社会評論社 http://www.shahyo.com/mokuroku/culture/sub_culture/ISBN978-4-7845-1101-3.php なぜこの本が作られたのかについて、裏表紙に「問題を解くことに膨大な勉強時間を費やしてきたからこそ、どうがんばっても解けない問題を出すのは出題側の不始末だ」とゲーテ(2009～2014)の言葉が引用されています。 本の装丁は赤本風なのですが、よく見ると「大学入試問題問題シリーズ」。「大学入試問題」の「問題」を集めています。 帯を取ると
書籍『Test Driven Development for Embedded C』: 柴田 芳樹 (Yoshiki Shibata)
Test Driven Development for Embedded C 作者: James W. Grenning出版社/メーカー: Pragmatic Bookshelf発売日: 2011/05/02メディア: ペーパーバック Beta版の時は、あまり内容を読んでいなかったのですが、最終版の1st printingを通勤電車の中で読んでいます。第1部である「Getting Started」である第6章「Yeah, but ...」までしかまだ読んでいませんが、組み込み向けテスト駆動開発本としてはお勧めです。 第5章「Embedded TDD Strategy」では、組み込みシステムでTDDを採用した利点が説明されています。特に、ハードウェアに依存する組み込みシステムでは、どうしても、（不安定な）ハードウェアが提供されてからデバッグに入ることに対して、TDDによりその問題をどのように
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