大阪大学大学院 「ナノテクキャリアアップ特論」 2010年 4月16日 ナノエレクトロニクスを拓く 原子レベル材料技術・計測技術 金山 敏彦 独立行政法人 産業技術総合研究所 ナノ電子デバイス研究センター 1 持続するトランジスタの微細化 1ナノメータ nm = 10-9 m = 10-7 cm 2005年 ITRS(国際半導体技術ロードマップ) 2008年 ITRS(国際半導体技術ロードマップ) 2009年 ITRS(国際半導体技術ロードマップ) Scaling シリコン原子 48個分 2007 Symposium VLSI Technology ゲート長・ゲート絶縁膜厚 (nm) 2003年ゲート長 45nmトランジスタ 100 2013年ゲート長 13nmトランジスタ 40 nm TiN/HfSiON ゲートスタック Sukegawa, 富士通 10 Hi