3日で作る高速特定物体認識システム (1) 物体認識とは(2009/10/18)の続きです。 今回は、画像からSIFT (Scale-Invariant Feature Transform) という局所特徴量を抽出するところを作ってみようと思います。 SIFT特徴量の抽出 まずは、局所特徴量の代表ともいえるSIFTを試してみます。OpenCVにはSIFTを抽出する関数がなかったのでRob Hess氏がC言語で実装したライブラリを試してみます。内部でOpenCVを使っているので事前にOpenCVのインストールが必要です。実装はOpenCV 1.1でされているみたいですが、2.0でもちょっと手直しすると動きました。Rob Hess氏のホームページからSIFT Feature Detectorのzip版を落とします。 (注)Hess氏のサイトが更新されたようで現在はGitHub上のOpenSIF
iPhoneアプリでOpenCVを動かそう!としたら、色々と苦戦したり茨の道だったので、そのレポートを書きます。 ※Xcode4.3,SDK5.1で開発しました。 参考にしたサイト 「OpenCV iPhone」で検索すると、真っ先にヒットするページです。 yoshimasa niwa - iPhoneでOpenCVを使う方法 こちらを参考にさせていただきました。 上記サイトで配布されているビルド済みライブラリをインポートしてそのまま使おうとすると、最新SDKとバージョンが違うので動きませんでした。 ライブラリをビルドする準備 1.サンプルコードをダウンロード 上記のページのコメント欄に、stephanepechard/iphone_opencv_test · GitHubというリポジトリがあるので、こちらを使ってみます。 % git clone git://github.com/step
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