前編と中編 e6zout.hatenablog.jp e6zout.hatenablog.jp 負荷内容の振り返り 前編の 消耗させる の項で描いた通り、 dd コマンドで1周約111GB 及びfioコマンドで1テスト辺り10GB、シーケンシャル、ランダムそれぞれでRead,Write、及び シーケンシャルでのreadとwriteミックスIOの5テスト、計50GBで総計約160GBの書き込みが発生します テスト周回数とIOPSの劣化 まずはグラフをご覧ください 横軸がテストの周回数です。周回数 * 160GBがテストのでの総書き込み数になります 右軸の青線がSMARTによる Wear Leveling Count 左軸の他四色の線がそれぞれのSeq/RandのRead/Writeのfioスコアになります fioの設定については前編をご覧ください 見所は以下のポイントになります 各ベンチマー