この領域の長さを測る物差し X線回折、電子線回折 ：X線や電子線を用いて、結晶の回折図形を得ることで、結晶中の原子間距離や点群による対称性を求めることができる。 原子間力顕微鏡 (AFM：Atomic Force Microscopy) ：カンチレバーの先端についた微小な探針と試料との間にはたらく引力または斥力をカンチレバーの曲がり具合として検出することで、1原子レベルで試料表面の形状、段差を測定することができる。
長さの比較 - Wikipedia
この領域の長さを測る物差し X線回折、電子線回折 ：X線や電子線を用いて、結晶の回折図形を得ることで、結晶中の原子間距離や点群による対称性を求めることができる。 原子間力顕微鏡 (AFM：Atomic Force Microscopy) ：カンチレバーの先端についた微小な探針と試料との間にはたらく引力または斥力をカンチレバーの曲がり具合として検出することで、1原子レベルで試料表面の形状、段差を測定することができる。
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