t_wadaさんと「単体テストの使い方/考え方」の疑問点についてディスカッションしました - DeNA Testing Blog
こんにちは、SWETグループの田熊です。 現在SWETグループでは書籍「単体テストの使い方/考え方」の輪読会を実施しています。 輪読会ではメンバー同士で活発に意見が交わされていますが、著者の主張に疑問を感じる箇所もあり、一度グループ外の方とも意見を交換したいと考えていました。 そこで、t_wadaさんをお招きし「単体テストの使い方/考え方」についてディスカッションする機会を設けました。 本記事では、SWETメンバーとt_wadaさんとのやりとりを紹介したいと思います。 ディスカッションの流れ ディスカッションは事前にSWETグループのメンバーが書籍を読んで疑問に感じたテーマを挙げてもらい、t_wadaさんの意見を聞くという流れで行いました。 今回は次のテーマについて話をしました。 「退行に対する保護」があるテストとはなにか 「リファクタリングへの耐性」のトレードオフはあるのか 統合テストの
