0.1nmより短波長のX線自由電子レーザー光強度を初めて測定 -国際的な計測基準での測定で標準供給と校正が可能に-（プレスリリース） — SPring-8 Web Site
0.1nmより短波長のX線自由電子レーザー光強度を初めて測定 -国際的な計測基準での測定で標準供給と校正が可能に-（プレスリリース） 2012年7月9日 独立行政法人 産業技術総合研究所 独立行政法人 理化学研究所 公益財団法人 高輝度光科学研究センター ポイント ● エネルギー密度が極めて高い世界最短波長のX線自由電子レーザー用に極低温放射計を新規開発して測定 ● 校正されたオンラインビームモニターで、実験中の光強度をリアルタイムで提供 ● ライフサイエンスやナノテクノロジー分野での研究の基盤技術としての活用を期待 独立行政法人 産業技術総合研究所【理事長 野間口 有】（以下「産総研」という）計測標準研究部門【研究部門長 千葉 光一】量子放射科 加藤 昌弘 研究員、田中 隆宏 研究員、齋藤 則生 研究科長と、独立行政法人 理化学研究所【理事長 野依 良治】（以下「理研」という）放射光科学
産総研ら、「X線自由電子レーザー」の光強度の絶対値を測定する技術を開発
産業技術総合研究所(産総研)、理化学研究所(理研)、高輝度光科学研究センター(JASRI)、ドイツ物理技術研究所(PTB)、ドイツ電子シンクロトロン(DESY)の5者は、「X線自由電子レーザー(XFEL)」の「平均パルスエネルギー(光強度)」の絶対値を測定する技術を開発し、さらにオンラインビームモニターを校正することで、実験中のXFELのパルスエネルギーを正確に測定することが可能となったことを共同で発表した。 成果は、産総研 計測標準研究部門 量子放射科の加藤昌弘研究員、同田中隆弘研究員、同齋藤則生研究科長と、理化学研究所 放射光科学総合研究センター ビームライン研究開発グループの矢橋牧名グループディレクター、高輝度光科学研究センター XFEL研究推進室 利用技術開発・整備チームの登野健介チームリーダーらの研究グループによるもの。研究の詳細な内容は、7月11日付けで米科学雑誌「Applie
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