現在,多くのGLでは虚血性脳卒中発症後のAF評価を目的とした24時間心電図の実施を推奨しています。 しかし、適切な観察期間や評価方法は確立しておらず,その後の検査は医師ごとの判断とされているのが現状です。 そのため,虚血性脳卒中やTIA患者においてしばしば無症候性に発症している発作性AFは検知されず無治療となっていることがある一方で,十分な診断を行ったにもかかわらず原因が明らかでない(cryptogenic,潜因性)脳卒中は全体の20~40%を占めるとの指摘もあります。 こうした課題解決の糸口を示すCRYSTAL-AF試験とEMBRACE試験の成績が,N Engl J Med誌に掲載されました。 CRYSTAL-AF試験 Cryptogenic stroke and underlying atrial fibrillation. N Engl J Med 2014; 370: 2478-2