An Implementation and Evaluation of A Generic Interface between PC and FPGA with AHCI
前回は,Serial ATAの信号計測の下準備について説明しました。今回は,プロトコル・アナライザを利用したSerial ATA通信の計測と解析について解説します。(連載の目次はこちら) ここではプロトコル・アナライザを用いたSerial ATA通信の計測と解析を説明します。 プロトコル・アナライザは,その名前の通り通信プロトコルの挙動を計測する機器です。1.5Gビット/秒または3.0Gビット/秒の高速シリアル・ビット・ストリームから通信の解析に必要な情報を取得し,解析レベルに合わせて情報表示を行います。オシロスコープのように信号波形を直接観測することはできません。 プロトコル・アナライザを使って,計測・解析可能な通信層はリンク層,トランスポート層,コマンド層の三つです。Serial ATAが物理層とこれら三つを合わせた4層から成立していることを考えると,プロトコル・アナライザ1台で大部分
前回は,Serial ATAの規格認証試験に導入された新しい計測規準の内容とともに,新基準への計測側の対応について解説しました。今回は,こうした計測の下準備について説明します。(連載の目次はこちら) Serial ATAの信号計測では,フィクスチャを利用して被測定機器とオシロスコープを直接接続します。ただし単純に接続しただけでは,被測定機器が信号を出しません。試験に向けて自動的に繰り返しパターンを発信し続けるBIST(built-in self test)モードに移行させる必要があります。 UTDでは,試験信号を発生させるためには,BISTの使用を推奨しています。デバイスの場合,通常のSerial ATAの通信手段によってホスト側から「BIST Activate FIS」と呼ぶ制御信号を送ることで,BISTモードに切り替えることができます。BIST Activate FISにはいくつかのオ
前回は,Serial ATAの事例を通じて,認証試験の見直しによって計測手法自体がガラリと変わってしまうことがあるという説明をしました。さらに,規格の進化や応用の広がりを先回りすることの重要性を示しました。今回は,Serial ATAの規格認証試験に導入された新しい計測規準の内容とともに,新基準への計測側の対応について解説します。(連載の目次はこちら) ここからは,Serial ATAの規格認証試験に導入された,新しい計測規準について解説します。計測手法自体は,特に目新しくないですが,適用する部分と目的に特徴があります(試験の下準備に関しては,次回の「信号の取り出しにはBISTが必須」参照)。 通常,シリアル・インタフェースの規格認証試験というと,信号の品質を確認するためのアイ・ダイヤグラム試験を思い浮かべる人が多いかもしれません。事実,「USB 2.0」「PCI Express」「HDM
技術標準だけではなく,認証試験の計測手法もまた常に進化しています。標準化団体は認証試験の厳格化に向けて試験内容を常に見直しています。その結果,計測手法自体がガラリと変わってしまった例があります。なじみ深いアイ・ダイヤグラム試験がなくなったSerial ATAです。ここではSerial ATAの事例を通じて,認証試験で計測技術が刷新するときの標準化団体側の狙いと刷新後の新常識への対応を解説します。(連載の目次はこちら) Serial ATA(serial advanced technology attachment)は,元々パソコンの内部接続で使うパラレル方式のATAの置き換え技術として開発されました(図1)。対応製品を開発・販売するメーカーと,対応製品の数は順調に増え続けています。応用分野も広がっています。当初は,ほとんどがパソコンに内蔵するハード・ディスク装置(HDD)でした。最近では,
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Serial ATA (Advanced Technology Attachment) [SATA Description] [Serial ATA Jitter] [Interface ICs] [SATA Connector/Cable] [SATA Pinout] [PATA] [Home] SATA Interface The Serial ATA [SATA] bus is defined over two separate connectors, one connector for the data lines and one for the power lines [shown left]. A Serial ATA Hard drive may also have a third connector for legacy PATA power connections. Th
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