ヒューマンボディモデル及びマシーンモデルに基いた半導体デバイスの 静電破壊試験装置です。 ラッチアップ試験にも対応! 1024ピンまでの多ピン対応や、チャージドデバイスモデルの試験器や 複数の半導体デバイスに対応した機種もあります。
ヒューマンボディモデル及びマシーンモデルに基いた半導体デバイスの 静電破壊試験装置です。 ラッチアップ試験にも対応! 1024ピンまでの多ピン対応や、チャージドデバイスモデルの試験器や 複数の半導体デバイスに対応した機種もあります。
リリース、障害情報などのサービスのお知らせ
最新の人気エントリーの配信
処理を実行中です
j次のブックマーク
k前のブックマーク
lあとで読む
eコメント一覧を開く
oページを開く