"フラッシュメモリのエラー確率が高い精度で予測できる特徴を利用し、データをメモリに書き込む時点で、寿命に応じた所定の数のエラーを意図的に注入。指定した時点でデータを壊し、誤りが訂正できないようにする。"

hyuki のブックマーク 2015/06/18 14:40

<blockquote class="hatena-bookmark-comment"><a class="comment-info" href="https://b.hatena.ne.jp/entry/256650628/comment/hyuki" data-user-id="hyuki" data-entry-url="https://b.hatena.ne.jp/entry/s/www.itmedia.co.jp/news/articles/1506/18/news082.html" data-original-href="https://www.itmedia.co.jp/news/articles/1506/18/news082.html" data-entry-favicon="https://cdn-ak2.favicon.st-hatena.com/64?url=https%3A%2F%2Fwww.itmedia.co.jp%2Fnews%2Farticles%2F1506%2F18%2Fnews082.html" data-user-icon="/users/hyuki/profile.png">フラッシュメモリのエラー確率利用、データを指定時点で自動破壊　新メモリシステムを中央大が開発</a><br><p style="clear: left">&quot;フラッシュメモリのエラー確率が高い精度で予測できる特徴を利用し、データをメモリに書き込む時点で、寿命に応じた所定の数のエラーを意図的に注入。指定した時点でデータを壊し、誤りが訂正できないようにする。&quot;</p><a class="datetime" href="https://b.hatena.ne.jp/hyuki/20150618#bookmark-256650628"><span class="datetime-body">2015/06/18 14:40</span></a></blockquote><script src="https://b.st-hatena.com/js/comment-widget.js" charset="utf-8" async></script>

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