NECは2019年8月19日、ディープラーニングの学習に必要なデータ量を削減する新たな技術を開発したと発表した。同技術は画像や音声などデータ形式によらず適応でき、学習データセットの拡張を専門家による調整なしに実現するとしている。 製品の外観検査など、製造業においてもディープラーニング活用が進む。ディープラーニングの推論精度は学習用データセットの質と規模に依存するが、高品位なデータセットの用意は手間やコスト面で高いハードルが存在する。外観検査の例においても不良品の画像データを多数そろえる必要があるが、そもそも発生頻度の低い不良でデータ収集が困難な場合が多い。この問題を解決するため、他領域で学習したニューラルネットワークを転用する「転移学習」や、元の学習データを人為的に加工し学習用データセットへ加える「データ拡張」などの手法に注目が集まっている。 一方で、データ拡張は専門家による調整を必要とす