反射型干渉分光法(はんしゃがたかんしょうぶんこうほう、Reflectometric interference spectroscopy = RIfS)は薄い層における白色光干渉に基づいた物理学的な方法で、分子の相互作用を調べるために実用的に使用されている。 左:境界層における複数反射の際の図解。 右:結果として生じる干渉スペクトルの図解。 白色光は複数層システムに垂直に入射される。システムはSiO2と高屈折率のTa2O5と更なるSiO2の層から成り、この更なるSiO2層は化学的に修正することができるものである。位相の境界ではどこでも白色光の部分光線が反射するか、または屈折して透過する。反射した部分光線は重なって干渉スペクトルになり、これはダイオードリニアアレイ分光計を通して検出される。 最上部のSiO2層は化学的な修正によって目的の分子と相互作用する状態になるまで変化させられる。この相互作