ケータイ電話用フラッシュメモリの不良をNokiaが解析
会期：3月26日～30日(現地時間) 会場：米San Jose McEnery Convention Center 「国際信頼性物理シンポジウム(IRPS:International Reliability Physics Symposium)」から、現地レポートの続きをお届けする。今回は中日(なかび)である3月29日(現地時間)の発表から、注目を集めた技術講演を紹介しよう。 ●FPGAやSRAMキャッシュなどの論理が反転 FPGAやSRAMキャッシュなどに書き込んだデータの論理値が、反転してしまうことがある。この不良モードはソフトエラー、あるいはシングルイベントアップセットと呼ばれており、何の前触れもなく発生する一過性の不良である。半導体デバイスのフリップフロップやメモリセルなどが破壊されるわけではない。データを書き込み直すと正常に動作する。不良の発生が検知しにくい、厄介な不良モードであ
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大変ご無沙汰していました。 個人的なご報告になりますが、先日、2年間在籍したbAを退職しまして、これからしばらくフリーランスとして活動していきます。関係者の皆様、今まで本当にお世話になりました。 出会えたすべての人に感謝しております。 どうも業界内で所謂Flasherと呼ばれる人種は基本的に変態気質というか、まるで社会と迎合しないような印象を持たれていたりしまして、やはり自分も例外なく変わり者扱いをされてやりきれない思いをしましたが、今となってはいい思い出です。 すでにやることが山積していますが、個人的にはこれからwebやUIデザインに関連したモノ作りをプラットフォームに拘らず幅広くやっていければと思っています。このブログもタイトル変えて再構築したいです。もっとカジュアルな方向で情報発信できれば。 今後の連絡先は以下になります。 koba{at}casualplay.net 何かありました
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