JTAG - Wikipediaこの記事は検証可能な参考文献や出典が全く示されていないか、不十分です。出典を追加して記事の信頼性向上にご協力ください。（このテンプレートの使い方） 出典検索?: "JTAG" – ニュース · 書籍 · スカラー · CiNii · J-STAGE · NDL · dlib.jp · ジャパンサーチ · TWL（2014年5月） JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテスト（英語版）やテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。 半導体技術の進歩により集積回路チップのピン間隔も狭くなりプロ
