テスト分析・テスト設計入門© 2013 Fuji Xerox Co., Ltd. All rights reserved. ■JaSST 2013 四国 テスト分析・テスト設計入門 富士ゼロックス株式会社 ソリューション・サービス開発本部 秋山 浩一 2 自己紹介 1985年4月 富士ゼロックス入社 現在はHAYST法のコンサルティング業務に従事 NPO ソフトウェアテスト技術振興協会（ASTER） 理事 JaSST東京実行委員（2003年～） 日本最大のテストシンポジウム1600名の動員 JSTQBステアリング委員（2006～） テスト技術者資格認定を行う国際組織日本支部 日科技連 SQiP研究会 委員長（2011年～） Wモデル研究会 主査（2011年7月～） 電通大 西康晴先生、NEC 吉澤智美氏、MRT 鈴木三紀夫氏 ISO/IEC JTC 1/SC7 WG26委員（20
