テラヘルツ波の透過による物質検査手法を25倍に高速化 : 富士通

English PRESS RELEASE （技術） 2011年9月12日 株式会社富士通研究所 テラヘルツ波の透過による物質検査手法を25倍に高速化 モノの内部を見える化し、X線よりも安全で幅広い物質に対応 株式会社富士通研究所（注1）は、光と電波の中間であるテラヘルツ（THz）波を用いた透過による非破壊の物質検査を行う手法について、従来よりも25倍高速に検査が可能な技術を開発しました。テラヘルツ波は、紙やプラスティックや布といった金属以外をよく透過し、対象の物質を正確に把握することが可能なため、隠された物質の非破壊検査などモノの内部を見える化する用途で期待されています。しかし、従来の検査手法では、1回の照射で物質の1方向のみしか測定できず、物質の全体像を測定するには対象の物質を少しずつ移動させて何度も照射する必要があるため、検査に時間がかかるという課題がありました。 今回、新たな光学素

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THz分光面白いよ

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『光と電波の中間であるテラヘルツ（THz）波を用いた透過による非破壊の物質検査を行う手法』『金属以外をよく透過』『縦横30ミリメートルの対象物の測定時間を従来の34分から1分21秒へと25倍に高速化』

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✂ テラヘルツ波の透過による物質検査手法を25倍に高速化