見通しのよいテストの段階的詳細化の手法
ソフトウェアテストシンポジウム 2013 JaSST’13: Japan Symposium on Software Testing 2013 見通しのよいテストの段階的詳細化の手法 －テストの網羅性確保の提案－ 吉岡 克浩† 水野 昇幸‡ 西 康晴††† †三菱電機株式会社 設計システム技術センター 〒661-8661 兵庫県尼崎市塚口本町 8-1-1 ‡三菱電機株式会社 通信機製作所 〒661-8661 兵庫県尼崎市塚口本町 8-1-1 †††電気通信大学 情報理工学研究科 〒182-8585 東京都調布市調布ヶ丘 1-5-1 E-mail: †Yoshioka.Katsuhiro@ab.MitsubishiElectric.co.jp ‡Mizuno.Noriyuki@ah.MitsubishiElectric.co.jp あらまし 段階的にテストを詳細化する「テスト開発プロセス」を
テスト分析・テスト設計入門
© 2013 Fuji Xerox Co., Ltd. All rights reserved. ■JaSST 2013 四国 テスト分析・テスト設計入門 富士ゼロックス株式会社 ソリューション・サービス開発本部 秋山 浩一 2 自己紹介 1985年4月 富士ゼロックス入社 現在はHAYST法のコンサルティング業務に従事 NPO ソフトウェアテスト技術振興協会（ASTER） 理事 JaSST東京実行委員（2003年～） 日本最大のテストシンポジウム1600名の動員 JSTQBステアリング委員（2006～） テスト技術者資格認定を行う国際組織日本支部 日科技連 SQiP研究会 委員長（2011年～） Wモデル研究会 主査（2011年7月～） 電通大 西康晴先生、NEC 吉澤智美氏、MRT 鈴木三紀夫氏 ISO/IEC JTC 1/SC7 WG26委員（20
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