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世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定~宇宙・他惑星などあらゆる環境での中性子起因ソフトエラー故障数を算出可能に~ | ニュースリリース | NTT
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世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定~宇宙・他惑星などあらゆる環境での中性子起因ソフトエラー故障数を算出可能に~ | ニュースリリース | NTT
日本電信電話株式会社(本社:東京都千代田区、代表取締役社長:澤田 純、以下「NTT」)および国立大学... 日本電信電話株式会社(本社:東京都千代田区、代表取締役社長:澤田 純、以下「NTT」)および国立大学法人東海国立大学機構名古屋大学(愛知県名古屋市、総長:松尾 清一、以下「名古屋大学」)、国立大学法人北海道大学(北海道札幌市、総長:寳金 清博、以下「北海道大学」)は共同で、中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー(※1)発生率(※2)を“連続的な”データとして実測することに成功し、その全貌を世界で初めて明らかにしました。 この「ソフトエラー発生率の中性子エネルギー依存性のデータ」は、宇宙線による半導体影響の研究・対策において最も重要なものですが、これまでは飛び飛びのエネルギーでの測定値しかなく、連続的な測定データを得ることは不可能でした。本研究では、光速に近い中性子の速度を測定可能にする超高速エラー検出回路を開発し、1MeVから光速に近い800MeVまでの非常に広範囲なエネルギーの中