株式会社ティアテック - 半導体測定・ソフト・中古

マルチサイト信頼性試験システム 【MSR - Multi Site Reliability】 - 多点測定、ウェハーレベル信頼性試験 - TDDB、NBTI、EM、HCI、BT等の測定 - IV測定、CV測定、パルス高電圧・大電流測定 - プローバとのシステム販売（右図はマニュアル型） - 既存プローバとの接続可能（改造承ります） - オートプローバとの自動測定システム（ソフト制御） - システム概観（オートプローバシステム） - システム概観（セミオートプローバシステム） ウェハーレベルバーンイン 【MSR-BTEシステム】 - マニュアルプローバ・セミオート/オートプローバ対応 - 6インチ、8インチ、12インチ対応 - マルチサイトプローブカード取り付け - 低温~高温対応（高温は最大300度） - 既存の測定器を組み込んでシステム構築可能 - プローバ周りの改造、設計承ります -