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米国技術標準局の遺留指紋照合技術評価テストで1位獲得(2009年4月16日): プレスリリース | NEC
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米国技術標準局の遺留指紋照合技術評価テストで1位獲得(2009年4月16日): プレスリリース | NEC
NECは、米国国土安全省の委託を受けた米国技術標準局(NIST)(注1)が実施した「遺留指紋照合技術評価テ... NECは、米国国土安全省の委託を受けた米国技術標準局(NIST)(注1)が実施した「遺留指紋照合技術評価テスト」において、世界第1位の指紋照合技術を有するという評価を獲得しました。 本テストでは、世界の主要指紋照合システムベンダが参加するなか、NECは2位以下のベンダを大きく引き離し(NECの認識率97.2%、2位87.8%、3位80.0%)、指紋照合技術の優位性をあらためて実証しました。この高い認識率は、自動遺留照合のために強化した低確信度特徴点適応技術やゾーン(領域特性)照合技術などに加え、新たに開発した遺留指紋のノイズ除去技術や低品質隆線認識技術という最新の指紋画像処理技術を組み合わせることで実現したものであります。 遺留指紋とは、犯罪現場に残っている指紋(物体を触った時に残る指紋の跡)のことであり、「遺留指紋照合技術評価テスト」は、あらかじめ全自動で登録しておいた指紋画像1万人分(