テストではバグがあることは示せるが、バグがないことは証明できない - NTD TKS

（2008.5.13） 三菱東京ＵＦＪ銀の大規模移行作業でもATM障害が。 http://ntd.way-nifty.com/blog/2008/05/atm_72aa.html （2004.3） ITProより。２００４年１月に連発したシステム障害について。 統合ATMが陥った“テスト不足”の落とし穴〜負荷集中や計算値「思い込み」からテストケースが漏れる〜 http://itpro.nikkeibp.co.jp/members/SI/ITARTICLE/20040226/1/ ここに読者からのコメントが。 「テストが漏れた」と書かれているが、そもそも、設計時に想定されていないことをテストすることは不可能である。「テストが漏れた」のではなく、「システム設計時に想定していなかった」のである。GOTOレス設計で有名なダイクストラは「テストではバグがあることは示せるが、バグがないことは証明できな