米Google、メモリストレスをテストする「Stressful Application Test」を公開 | OSDN Magazine

米Googleがオープンソースのハードウェアテスト「Stressful Application Test（stressapptest） 1.0.0」を公開した。メモリへのランダムなトラフィックを最大化させるテストツールで、Google社内でも利用しているという。 Stressful Application Testは、プロセッサやデバイスからメモリへのランダムなトラフィックを最大化することを目的に開発したハードウェアテスト。メモリストレス・テスト、ハードウェアの認証とデバッグ、メモリインターフェイスのテストなどの用途に利用できるという。 同ソフトウェアはユーザー空間で動作し、メモリコピーとI/Oディスクの読み込み/書き出しを行うスレッドで構成される。メモリ内部ではなく、メモリのインターフェイスとコネクションのテストにフォーカスしており、通常のメモリテストでは検出されないエラーも検出できると