特許情報を基に技術間の「距離」を定量化，異分野参入時の判断材料に
東京工業大学 精密工学研究所 客員教授の大嶋洋一氏は，2007年11月6日に開かれた「第4回東京工業大学精密工学研究所知財シンポジウム」で講演し，対象とする技術分野の規模と，半導体技術との関連性（距離感）を特許情報に基づいて定量化する分析手法について説明した。例えば，半導体技術を強みに異分野に事業展開したいと考えている企業の場合，技術規模が大きくても半導体分野から縁遠い分野では強みを発揮できない可能性が高い。こうした状況を特許情報から定量化し，判断材料にしていく。 特許面で見た技術の規模は，「SPレシオ（semiconductor patent ratio）」という指標で表す。これは1年間に米国で登録された特許のうち，対象とする技術キーワードを明細書の中に含む特許の件数を，「Semiconductor」を含む特許件数で割ったもの。SPレシオが1よりも大きければ，半導体分野よりも特許件数が多
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