RaspberryPi を安定運用させる - Qiita
Deleted articles cannot be recovered. Draft of this article would be also deleted. Are you sure you want to delete this article? はじめに しまねソフト研究開発センター（略称 ITOC）にいます、東です。 教育用ワンボードマイコンとして販売されている Raspberry Pi （以下ラズパイ）は、教育用のみならず実験用、産業用とさまざまな分野で使われつつあります。一方、マイクロSDカードをメインストレージに使用している事や、OSがクライアントPCよりの設定にしてある事などから、長期安定運用には向かない面も存在します。 このレポートでは、OSや稼働させるソフトウェアの設定など、できるだけ簡易に再現可能な方法により、可能な限りラズパイを安定して長期運用させることを狙い
ジャンクション温度の計算（1）―― 温度計算の原理
前回まで説明してきた半導体のワイヤーボンド技術は直接的に設計者が使い方を考慮できるものではなく、半導体メーカーの仕様に関するものです。半導体を選択する時やメーカーからの仕様変更の申し入れ、故障解析レポートの評価時などにおいてメーカーの情報のみで判断せず、一度立ち止まって評価内容について吟味する姿勢を忘れなければ良いかと思います。 今回から、数回にわたり半導体を使う上で考慮しなければならない接合（ジャンクション）部の温度計算の算出法について説明します。この接合部の温度は熱電対や熱画像などで測定できるものではありませんので理論に基づいた計算が一般に用いられます。 過渡温度上昇の影響 本稿では各種部品の構造や使い方について説明してきましたが半導体については使い方を特に説明はしませんでした。しかし半導体は使い方を誤ると破壊、焼損を引き起こしたり、そのレベルまでは至らないとしても部品の故障率に多大な
CD・DVD・BDが劣化する要因や種類ごとの寿命についてカナダ保存研究所が解説
大事なデータや思い出として残しておきたい映像・音声は、クラウドサービスやHDDに保存する方法の他、CDやDVD、Blu-rayディスク(BD)といった光ディスクの記録媒体に保存しておくケースも多くあります。このような光ディスクはコンパクトで管理や配布もしやすい一方で、かつて主に記録媒体として使用されたVHSは情報が15年～20年で劣化して消えてしまう「磁気メディア危機」を迎えたように、光ディスクもデータの劣化・損失が起こる可能性があります。そのような劣化や損失が起こる要因などについて、カナダ保存研究所(CCI)が解説しています。 Longevity of Recordable CDs, DVDs and Blu-rays — Canadian Conservation Institute (CCI) Notes 19/1 - Canada.ca https://www.canada.ca/
テクニカルレポート｜株式会社ハイロックス
量産現場における鉛フリーはんだ実装 ～実装品の良否判定事例～ はんだボールの事例、フラックスの熱反応特性 フローはんだのブリッジ、プリヒートによるフラックスの劣化
意外に弱いSSD--火星目指すHPE製コンピュータ、勘所は「セルフケア」
印刷する メールで送る テキスト HTML 電子書籍 PDF ダウンロード テキスト 電子書籍 PDF クリップした記事をMyページから読むことができます 最新のコンピュータを火星に持っていきたいとしても、それは厳しい。宇宙放射線が電子機器に大きな被害をもたらすからだ。 Hewlett Packard Enterprise（HPE）は、太陽系全体に吹き渡る陽子に耐える手段として有望な、新たな取り組みを進めている。 宇宙探査機の設計者は数十年間、コンピュータに“放射線への耐久性”を持たせることで、宇宙線などの放射線から電子機器を保護してきた。しかし残念なことに、耐久性と引き換えにコンピュータの処理能力は犠牲となり、開発とテストに何年も要することとなった。例えば、国際宇宙ステーション（ISS）の管理コンピュータは1985年にリリースされたIntel 386SXプロセッサを搭載し、航空宇宙大手の
機械学習：技術的負債の高金利クレジットカード
Google で機械学習システムの開発に携わる D. Scully 氏らによる Machine Learning: The High-Interest Credit Card of Technical Debt (機械学習：技術的負債の高金利クレジットカード) という論文。機械学習は、複雑なシステムを素早く開発するにあたって非常に強力なツールとなるが、それと同時に、 大きな技術的負債（メンテナンスコスト）を抱えるリスクがある。そのリスク要因と対処法についてまとめたのが本論文。 発表当時、日本でも少し話題になったので、日本語で検索するといくつか翻訳を目にすることができますが、 ここでは、あらためて抄訳を試みるとともに、読む上で重要となる単語・表現を最後に紹介したいと思います。 概要 機械学習は、複雑なシステムを素早く開発するにあたって非常に強力なツールとなるが、これらのメリットがタダで 享受
ペロブスカイト太陽電池の寿命、従来比10倍に
東京大学大学院工学研究科の松尾豊特任教授らは、耐久性をこれまでの10倍に向上させたペロブスカイト太陽電池の作製に成功した。 高いエネルギー変換効率と耐久性を両立 東京大学大学院工学研究科の松尾豊特任教授と田日特任助教、丸山茂夫教授らは2018年3月、中国・東北師範大学の上野裕副教授らと共同で、耐久性をこれまでの10倍に向上させたペロブスカイト太陽電池の作製に成功したと発表した。 ペロブスカイト太陽電池は、リチウム塩がドープされた有機半導体をホール輸送層に用いることで、エネルギー変換効率を20％近くまで高めている。しかし、実用化するには耐久性が課題となっていた。リチウム塩には吸湿性があり、有機半導体から電子を引き抜く時には酸素が必要となる。ところが、発電層に用いる有機金属ペロブスカイトは、水や酸素の影響で極めて不安定となる特性がある。 研究グループは今回、従来のリチウム塩ではなく、日本のベン
SC17 - Xeon Phiに中性子ビームを当ててエラー率を実測
1つの中性子ヒットで、どのようにエラーが起こるかを見ると、長方形の領域でエラーが起こっているRectangular、直線状にエラーが起こっているLine、ばらばらに起こるRadom、1bitだけがエラーするSingleなどがある。なお、この図には描かれていないが、マトリクスの3次元の隣接領域にエラーが集中しているケースをCubicと分類している。 1個の中性子ヒットで1bitのエラーとなるケースは少なく、大部分は複数ビットのエラーとなる。どのような位置のビットがエラーになるかで、Rectangular、Line、Random、SingleとCubicに分類する そして、各ベンチマークのエラーをこの5種のエラーパターンごとに分類したのが次の図である。色分けは上からCubic、Rectangular、Line、Single、Randomとなっている。ただし、各棒グラフにすべての分類が含まれてい
新幹線の｢亀裂｣はなぜ発見できなかったのか
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NEC、Nanobridge技術搭載LSIのサンプル製造開始
NECは、独自の金属原子移動型スイッチ"Nanobridge"を搭載したFPGA(NanoBridge-FPGA 以下NB-FPGA、注1)のサンプル製造を開始しました。将来のライセンスビジネスを視野に、2017年度中にサンプル出荷を開始する予定です。 FPGAは、ユーザーが用途に合わせて組み替えができる再構成可能回路で、現在、SRAM(注2)に回路情報が保持されるSRAM型FPGAが主流です。SRAMなどのメモリは電荷の有無により0、1で回路情報を保持しますが、LSIに放射線が入射するとメモリの電荷が乱されるため、回路情報に変化が起こり、動作エラーが発生する場合があります。 一方、NB-FPGAは、電荷の有無ではなく、金属スイッチの金属架橋の有無により回路情報を保持するため、放射線の影響を受けにくく、エラー発生率1/100以下の優れた放射線耐性を備えています(注3)。また、原子レベルの極
登山用にエネループプロを使用してはいけない ニッケル水素充電池エネループのお話し
まとめ ■エネループプロはゴミ ■エネループプロはとても不安定 女子供はすっこんでろ!とでも云いたげな男のロマンが詰まった「太くて黒い電池」ですが、とんでもない地雷でした。 今回は充電池のお話しです。 僕は何度か電池の事を書いてきましたが、登山では機器用の電池は非常に重要な役目を持っています。 電池がトラブルを起こせば、命に関わる場合も多くなり､常に確実に作動すると云うことが最も大切なことになります。 特にヘッドライトとGPSに使う電池はいざという時に容量がないではすみません。 僕の話しになりますが、予備電池は最も確実な「リチウム単4電池」を持ち、単3変換アダプターも同時にキットの中に入れています。 基本的にすべての機器を単4で統一したいところなのですが、ガーミンのGPSのみはどうしても単3でなければならないため、このためだけに変換アダプターを持ち歩いていると言うワケです。 登山用の電池は
社内クラウド環境におけるディスク（HDD）の故障率を確認してみました。
ヤフー株式会社は、2023年10月1日にLINEヤフー株式会社になりました。LINEヤフー株式会社の新しいブログはこちらです。LINEヤフー Tech Blog はじめに 「Usenix FAST 16」というカンファレンスにおいて「Environmental Conditions and Disk Reliability in Free-cooled Datacenters」という論文が発表されたのはご存じでしょうか。 こちらの論文はフリークーリング方式におけるデータセンターがハードウエアに与える影響を調べた論文です。 内容については省略しますが、この中で特筆すべき項目として、気温の高さや気温変化よりも湿度の高さがディスク故障の最も大きな要因であると述べられています。 弊社の社内クラウド環境においてもあてはまるのか確認してみたというのが本記事の要旨です。 データセンター環境について まず
「Tesla S」の自動運転中の死亡事故、米運輸省当局が予備調査開始
電気自動車（EV）を開発・販売する米Tesla Motorsは6月30日（現地時間）、「Model S」の自動運転中の死亡事故について、米運輸省道路交通安全局（NHTSA）が予備調査を開始したと発表した。 Teslaの説明とNHTSAが米Vergeに送った声明文を合わせると、この事故は5月7日にフロリダ州ウィリストンのハイウェイで、Model Sのドライバーが自動運転機能の利用中、Model Sの前方に直角に割り込んできた大型トレーラーに巻き込まれてドライバーが死亡したというもの。 Teslaは事故後すぐにNHTSAに報告した。同社は公式ブログで、この死亡事故は2015年10月に自動運転機能が追加されてから累計1億3000万マイル（約2億1000万キロ）走行後に初めて発生したものであること、NHTSAによる調査は予備的なものであることを強調した。同社は、米国の一般車両の死亡事故は平均940
スイッチノードリンギングの原因と対策
昨今、広入力電圧範囲DC-DCコンバーターが使用されるケースが増えてきたが、MOSFETの高速のターンオンとターンオフは、スイッチノードのリンギングを発生させ、さまざまな障害の原因となっている。そこで、本稿では、DC-DCコンバーターにおけるスイッチノードリンギングおよびスパイクのメカニズムを取り上げ、その発生メカニズムと対策方法を詳しく解説する。 はじめに 産業、自動車および通信の基幹設備に使用される広入力電圧範囲DC-DCコンバーター用MOSFETの高速のターンオンとターンオフは、スイッチノードのリンギングを発生させ、それによるスパイク（電圧）がMOSFETあるいは集積化ゲートドライバの定格電圧を越えることにもなる。コントロールされないスパイクは、システムの信頼性を低くし、あるいはひどい障害を招くことさえあり得る。 本稿では、DC-DCコンバーターにおけるスイッチノードリンギングおよび
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NTT、宇宙線による半導体ソフトエラー発生率の全貌解明。中性子による誤動作が対策可能に
米大学、宇宙線による一般電子機器への影響増大に警鐘を鳴らす 〜スマホなどの高度化を受け、ビット反転エラーのリスク増大
AWSのリージョンとアベイラビリティーゾーンとは？ ～ AWSのバックボーンネットワークに関するDeepな話（1）
https://club-z.zuken.co.jp/hint/shikumi-hito/20160525_056.html
【福田昭のセミコン業界最前線】 金属配線の寿命は、電流密度で決まるとは限らない
【海外ITトピックス】 何が起こった? Googleパブリッククラウドの18分間のダウン (原因は、たった2つのバグ)