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自己診断プログラム「SMART」 | フラッシュメモリコントローラ/産業用CF(コンパクトフラッシュ)カード/産業用SSD(ソリッドステートドライブ) | 製品ポータル | 製品情報 | TDK株式会社
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自己診断プログラム「SMART」 | フラッシュメモリコントローラ/産業用CF(コンパクトフラッシュ)カード/産業用SSD(ソリッドステートドライブ) | 製品ポータル | 製品情報 | TDK株式会社
SMARTとはSelf-Monitoring & Analysis Reporting Technologyの意味で、自己診断機能を指します。 CFやSS... SMARTとはSelf-Monitoring & Analysis Reporting Technologyの意味で、自己診断機能を指します。 CFやSSDでは、内部に搭載しているNAND型フラッシュメモリに、書き換え(消去)回数の制限があります。 特に組込み用途でCFやSSDを使用する場合、実際の書き換え(消去)回数がどこまで進んでいるか、書き換え寿命を迎え不良化したブロックがどの程度あるかを把握することで、お客様のシステムでのCFやSSDの寿命を定量的に知ることが重要になります。 本プログラム使用により、次の取得が可能となります。
2013/09/26 リンク